遊雅堂 おすすめ電工時報 第138号新材料・新遊雅堂 おすすめ開発のための先端解析技術

佐々木宏和、西久保英郎、西田真輔、山崎悟志、中崎竜介、磯松岳己、湊龍一郎、衣川耕平、今村明博、大友晋哉、堀祐臣、廣瀬清慈、穴田智史、山本和生、平山司、山﨑順、柴田直哉、大場洋次郎、大沼正人

電子顕微鏡，放射光，表面分析の先端解析技術を様々な新材料・デバイスに活用した事例を紹介する。光通信用半導体レーザの解析に，電子線ホログラフィ，DPC-STEMの電子顕微鏡技術を活用した。気泡エナメル巻線の解析には，FIB-SEMによる3次元解析法を活用した。超電導線材と銅合金の解析には，SPring-8においてSAXS法を用いた。AuSnはんだの解析には，HAXPESの表面分析手法を活用した。